專利名稱：邊緣檢測裝置以及包括其的圖像形成設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及檢測記錄介質(zhì)的邊緣的邊緣檢測裝置以及包括邊緣檢測裝置的圖像形成設(shè)備。
背景技術(shù)：
在靜電攝影的圖像形成設(shè)備中，已知如下技木即通過在記錄介質(zhì)的輸送路徑上(conveying path)布置(arrange)用于檢測記錄介質(zhì)的邊緣(以下，稱為“邊緣”)的諸如接觸圖像傳感器(以下，稱為CIS)的光學(xué)檢測單元、以及通過計算主掃描對準(zhǔn)(registration)與檢測的記錄介質(zhì)的邊緣位置的偏離量,來校正姆張記錄介質(zhì)的主掃描對準(zhǔn)的技木，以及計算檢測的記錄介質(zhì)邊緣的歪斜(skew)量的技木，以便調(diào)節(jié)相對于記錄介質(zhì)的轉(zhuǎn)印位置或者基于轉(zhuǎn)印位置而調(diào)節(jié)記錄介質(zhì)的位置。通過將從檢測單元中包括的諸如發(fā)光二極管(LED)的光源發(fā)射的光施加到記錄介質(zhì)上，然后通過用檢測單元中包括的光接收單元接收由記錄介質(zhì)反射的反射光，執(zhí)行由光學(xué)系統(tǒng)的檢測單元進(jìn)行的記錄介質(zhì)的邊緣檢測。例如，日本專利申請公開No. 2007-119135公開了如下配置，其中具有作為光源的LED的CIS等等用作檢測記錄介質(zhì)的邊緣的檢測單元，以及調(diào)節(jié)LED的發(fā)光量，以便檢測記錄介質(zhì)的邊緣。在檢測記錄介質(zhì)的邊緣的傳統(tǒng)方法中，從光學(xué)系統(tǒng)的檢測單元向作為檢測目標(biāo)的記錄介質(zhì)施加檢測光，以及由光接收單元接收記錄介質(zhì)反射的反射光。然后，處理單元以某方式處理，使得確定在接收比閾值更多的光量的像素上存在記錄介質(zhì)、而確定在沒有接收比閾值更多的光量的像素上不存在記錄介質(zhì)。此外，將這些像素之間的分界檢測為記錄介質(zhì)的邊緣。因此，依賴于從要使用的檢測單元的光源發(fā)射的光的波長以及起源于記錄介質(zhì) 的條件，諸如記錄介質(zhì)的材料性質(zhì)或者顔色，記錄介質(zhì)的反射可能是不充分的。在這種情況下，即使在上面存在記錄介質(zhì)的部分上，檢測單元也可能接收具有不超過閾值的量的反射光，從而進(jìn)行的有關(guān)是否存在記錄介質(zhì)的判定是不明確的。因此，難以高精度地檢測記錄介質(zhì)的邊緣。日本專利申請公開No. 2007-119135公開了如下技術(shù)布置用于檢測記錄介質(zhì)的邊緣的CIS等等，以及調(diào)節(jié)LED的發(fā)光量，以便正確地檢測記錄介質(zhì)的邊緣。然而，存在一些難以解決的問題。例如，關(guān)于要使用的檢測單元(CIS)的光源的發(fā)光波長以及記錄介質(zhì)的反射率性質(zhì)的選擇可能使得難以檢測記錄介質(zhì)的邊緣。此外，反射率低的記錄介質(zhì)的邊緣的檢測要求光源的發(fā)光時間更長，光源的發(fā)光強(qiáng)度更高，從而縮短了光源的壽命，増加了檢測記錄介質(zhì)邊緣所需要的檢測時間。因此，需要提供ー種邊緣檢測裝置，能夠與光源發(fā)射的光的發(fā)射波長或者記錄介質(zhì)的反射率性質(zhì)無關(guān)的、在短時間內(nèi)精確檢測各種記錄介質(zhì)的邊緣。還需要提供一種圖像形成設(shè)備，通過即使當(dāng)使用各種記錄介質(zhì)時，也在短時間內(nèi)實現(xiàn)高精度檢測記錄介質(zhì)的邊緣，從而用紙能力高、并且能夠獲得優(yōu)選圖像
發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是至少部分地解決傳統(tǒng)技術(shù)中的問題。ー種用于檢測移動的記錄介質(zhì)的邊緣的邊緣檢測裝置，包括反射単元，包括具有比記錄介質(zhì)的反射率更高的反射率的反射表面；光源，用光照射記錄介質(zhì)以及反射単元的反射表面；光接收單元，包括布置在記錄介質(zhì)的寬度方向上的多個光電轉(zhuǎn)換元件像素，在光電轉(zhuǎn)換元件像素上接收從光源發(fā)射以及由記錄介質(zhì)以及反射単元的反射表面反射的反射光；以及控制單元，判定在光接收單元中給出比預(yù)定閾值高的輸出的光電轉(zhuǎn)換元件像素的區(qū)域作為記錄介質(zhì)的邊緣。一種圖像形成設(shè)備，包括轉(zhuǎn)印單元，轉(zhuǎn)印圖像載體上形成的調(diào)色劑圖像；輸送路徑，在其上向轉(zhuǎn)印單元輸送安放在紙張饋送単元中的記錄介質(zhì)；以及邊緣檢測単元，配備于記錄介質(zhì)移動方向上轉(zhuǎn)印單元的上游，用于檢測正在移動的記錄介質(zhì)的邊緣。邊緣檢測單元是上述邊緣檢測單元。當(dāng)結(jié)合伴隨附圖一起考慮時，通過閱讀以下本發(fā)明優(yōu)選實施例的詳細(xì)描述，將更好地理解本發(fā)明的上述及其他目的、特征、優(yōu)點以及技術(shù)和エ業(yè)重要性。


圖I是說明根據(jù)實施例的圖像形成設(shè)備的示意配置的視圖；圖2是說明邊緣檢測裝置的示意配置的透視圖；圖3是說明邊緣檢測裝置中包括的反射単元的配置的透視圖；圖4是說明反射単元與驅(qū)動源之間的聯(lián)接(coupling)部分的形式的放大透視圖；圖5是說明反射単元反射的反射光與光接收單元之間的位置關(guān)系的說明性圖；圖6是說明根據(jù)本實施例的邊緣檢測裝置的檢測單元的配置的示意圖；圖7是說明根據(jù)本實施例的邊緣檢測裝置的光源的驅(qū)動電路圖；圖8是說明包括根據(jù)本實施例的記錄介質(zhì)的邊緣檢測電路的控制單元的塊電路圖；圖9A和9B是說明邊緣檢測電路的操作的定時圖；圖10是說明光量調(diào)節(jié)模式、角度調(diào)節(jié)模式、以及清潔模式的控制內(nèi)容的形式的流程圖；以及圖IlA和IlB是說明檢測單元的輸出電平與光接收單元中的光電轉(zhuǎn)換元件像素布置之間的關(guān)系的圖。
具體實施例方式根據(jù)本實施例的邊緣檢測裝置在檢測記錄介質(zhì)邊緣的過程中具有以下特征。即，將高反射率部件(例如，反射鏡)以該部件可以接收更多反射光的角度安裝在CIS的下面部分上。使從CIS發(fā)射的光由高反射率部件以及記錄介質(zhì)反射，并且由CIS接收反射光。利用該配置，由高反射率部件反射的光的強(qiáng)度比由記錄介質(zhì)反射的光的強(qiáng)度更高。因此，可以確定在接收比閾值更多的反射光的光電轉(zhuǎn)換元件像素上不存在記錄介質(zhì)，而在接收比閾值更少的反射光的另外光電轉(zhuǎn)換元件像素上存在記錄介質(zhì)。這些使得根據(jù)本實施例的邊緣檢測裝置的特征在于將光電轉(zhuǎn)換元件像素之間的邊界檢測為記錄介質(zhì)的邊緣。以下參考附圖詳細(xì)描述本實施例。圖I所示的彩色打印機(jī)是應(yīng)用本實施例的圖像形成設(shè)備的ー種形式。圖像形成設(shè)備并不局限于彩色打印機(jī)，也可以使用単色打印機(jī)、復(fù)印機(jī)、傳真機(jī)、或者包括這些功能的復(fù)合機(jī)器。彩色打印機(jī)可以使用包括黃色(Y)、品紅(M)、青色(C)、以及黑色⑷四種顏色的調(diào)色劑形成全色圖像。在設(shè)備主體I的中心附近配備有充當(dāng)環(huán)帶狀圖像載體的中間轉(zhuǎn)印帶2。中間轉(zhuǎn)印帶2繞多個支承棍28、驅(qū)動棍8、以及2次轉(zhuǎn)印相對棍(secondary transfer opposing roller) 10纏繞，配置為當(dāng)驅(qū)動輥8由驅(qū)動電動機(jī)(未示出)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動時，可以執(zhí)行圖I中的順時針方向的旋轉(zhuǎn)輸送。在中間轉(zhuǎn)印帶2之上，通過沿中間轉(zhuǎn)印帶2的移動方向并排地排列與黃色(Y)、品紅(M)、青色(C)、以及黑色(K)相對應(yīng)的多個圖像形成単元3Y、3M、3C、3K，配置成串聯(lián)類型(tandem-type)的圖像形成部分4。在串聯(lián)類型的圖像形成部分4上配備有兩個曝光裝置5、5。圖像形成單元3Y、3M、3C、以及3K包括作為運載相對應(yīng)顏色的調(diào)色劑圖像的潛像載體的光敏元件6Y、6M、6C、以及6K。在主轉(zhuǎn)印位置配備有充當(dāng)主轉(zhuǎn)印單元的組成元件的主轉(zhuǎn)印輥7Y、7M、7C、以及7K，以便通過在其間插入中間轉(zhuǎn)印帶2與各自的光敏元件相対。主轉(zhuǎn)印位置是調(diào)色劑圖像從光敏元件6Y、6M、6C、以及6K轉(zhuǎn)印到中間轉(zhuǎn)印帶2上的位置。在設(shè)備主體I的上部配備有顧客在其上執(zhí)行諸如打印設(shè)置的各種設(shè)置和操作的操作面板27。在中間轉(zhuǎn)印帶2的下方配備有邊緣檢測裝置29以及2次轉(zhuǎn)印單元。圖I中的2次轉(zhuǎn)印單元9是公知単元，以如下方式轉(zhuǎn)印中間轉(zhuǎn)印帶2上的調(diào)色劑圖像到記錄介質(zhì)S上電源(未示出)施加用于2次轉(zhuǎn)印的轉(zhuǎn)印電場到充當(dāng)轉(zhuǎn)印單元的2次轉(zhuǎn)印夾持部(nip)Nl，該轉(zhuǎn)印単元通過從中間轉(zhuǎn)印帶2的外側(cè)對著2次轉(zhuǎn)印相對輥10按壓2次轉(zhuǎn)印輥11形成。在圖I中，在2次轉(zhuǎn)印單元9附近配備有定影部分12，在其間配備有輸送帶15。在定影部分12中，通過對著定影帶13按壓加壓輥14形成定影夾持部，該定影帶13是環(huán)帶。定影部分12中使用的定影方法是用于通過施加熱量和壓カ將轉(zhuǎn)印的轉(zhuǎn)印圖像定影到由輸送帶15輸送的記錄介質(zhì)S上的公知方法。在記錄介質(zhì)移動方向上2次轉(zhuǎn)印夾持部NI的上游側(cè)的輸送路徑Rl上配備有邊緣檢測裝置29。邊緣檢測裝置29由主要充當(dāng)光學(xué)檢測單元的CIS 30以及充當(dāng)反射単元的反射鏡31組成。邊緣檢測裝置29用從CIS 30照射的光照射通過輸送路徑Rl的記錄介質(zhì)S以及反射鏡31，以及接收由記錄介質(zhì)S和反射鏡31反射的反射光。在圖像形成設(shè)備中，圖像數(shù)據(jù)從控制柜25中配備的控制板26傳輸，該控制柜25在設(shè)備主體I的側(cè)表面上配備。當(dāng)圖像形成設(shè)備接收用于命令開始圖像形成的信號吋，驅(qū)動輥8由驅(qū)動電動機(jī)(未示出)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動，以及支承輥28被旋轉(zhuǎn)驅(qū)動，因此旋轉(zhuǎn)輸送中間轉(zhuǎn)印帶2。同吋，由每個圖像形成単元3Y至3K在每個光敏元件6Y至6K上形成單色圖像。此外，當(dāng)輸送中間轉(zhuǎn)印帶2時，光敏元件上形成的單色調(diào)色劑圖像在主轉(zhuǎn)印位置順序轉(zhuǎn)印到中間轉(zhuǎn)印帶2上，以便在中間轉(zhuǎn)印帶2上形成合成顏色圖像。在設(shè)備主體I的下面部分配備有包括充當(dāng)紙張饋送単元的多個紙張饋送盒18的紙張饋送臺16。在紙張饋送臺16上，如果選擇紙張饋送盒18，以及操作設(shè)備來形成圖像，則紙張饋送輥17旋轉(zhuǎn)以及將記錄介質(zhì)S從ー個紙張饋送盒18饋送到與輸送路徑Rl連接的輸送路徑R上。由對準(zhǔn)輥20饋送的記錄介質(zhì)S通過輸送路徑R上配備的運輸輥19輸送到輸送路徑Rl上。然后，通過記錄介質(zhì)移動方向上邊緣檢測裝置29的上游側(cè)配備的對準(zhǔn)棍20上的突出擋(abutting),記錄介質(zhì)停止。對準(zhǔn)棍20與中間轉(zhuǎn)印帶2上的合成顏色圖像的定時同步地旋轉(zhuǎn)。在邊緣檢測裝置29與2次轉(zhuǎn)印夾持部NI之間配備移位輥(shiftroller) 32。基于主掃描方向上的對準(zhǔn)偏離量而在主掃描方向移位驅(qū)動移位棍32,以便校正記錄介質(zhì)S的位置。這里，從邊緣檢測裝置29檢測的記錄介質(zhì)S的邊緣Sa中計算主掃描方向上的對準(zhǔn)偏離量。在2次轉(zhuǎn)印夾持部NI，在校正記錄介質(zhì)S的位置之后，將調(diào)色劑圖像轉(zhuǎn)印到記錄介質(zhì)S上。 在將圖像轉(zhuǎn)印到記錄介質(zhì)S上之后，通過2次轉(zhuǎn)印夾持部NI以及輸送帶15的輸送動作，將記錄介質(zhì)S輸送到定影部分12 ;然后對其施加熱量和壓力，因此定影轉(zhuǎn)印的圖像(調(diào)色劑圖像)。其后，以公知方式，使用排出輥21將記錄介質(zhì)3輸送到校正記錄介質(zhì)S的卷曲的卷曲消除単元22。于是，在通過卷曲消除単元22的卷曲消除輥23校正記錄介質(zhì)S同吋，記錄介質(zhì)S排出到設(shè)備主體I的外面，并且堆放到排出托盤24上。圖2說明邊緣檢測裝置29的機(jī)械配置的形式。邊緣檢測裝置29包括CIS30、反射鏡31、充當(dāng)反射鏡31的驅(qū)動單元的步進(jìn)電動機(jī)33、作為的反射鏡31的位置檢測單元、同時用作檢測反射単元有無的檢測單元的光屏蔽傳感器34、以及從吹風(fēng)扇350發(fā)送的空氣的吹風(fēng)ロ 35。吹風(fēng)ロ 35配備成可以與反射鏡31的反射表面31a相対，因此從吹風(fēng)扇350發(fā)送的空氣吹向反射鏡31的反射表面31a。CIS 30和反射鏡31配備為面對輸送路徑Rl，以及相對于輸送路徑Rl彼此相対。如圖3所示，反射鏡31沿著記錄介質(zhì)S的寬度方向W延伸。軸310和311從反射鏡31的兩端分別在設(shè)備主體I的正面?zhèn)群捅趁鎮(zhèn)妊貙挾确较蛲S地突出。在正面?zhèn)壬吓鋫溆休S310，其通過軸承(未示出)由充當(dāng)正面?zhèn)壬吓鋫涞臋z測裝置主體的金屬板支架可旋轉(zhuǎn)地支撐。金屬板支架320可拆卸地支撐在設(shè)備主體I上，用螺釘?shù)鹊?未示出)牢牢地固定在設(shè)備主體I上。如圖4所示，軸311與設(shè)備主體I背面?zhèn)壬吓鋫涞牟竭M(jìn)電動機(jī)33的輸出軸330聯(lián)接。也就是說，反射鏡31的軸311與步進(jìn)電動機(jī)33的輸出軸330具有相互対稱的形狀；從每個軸311與輸出軸330中沿圓周方向切掉一半頂端(tip)，其切ロ表面分別稱為搭接表面312、332。在每個搭接表面312和332上形成由在軸線方向延伸的銷和孔所組成的凹槽-凸起嚙合部分。此外，如果將銷插入相對應(yīng)的孔中，則搭接表面312和332可以在旋轉(zhuǎn)方向整體旋轉(zhuǎn)，以及在軸線方向相互可拆卸地機(jī)械聯(lián)接。因此，如果從設(shè)備主體I上拆卸金屬板支架320，則可以與金屬板支架320 —起從正面?zhèn)?操作人員側(cè))拆卸反射鏡31。此外，可以從正面?zhèn)?操作人員側(cè))向背面?zhèn)劝惭b反射鏡31。如圖3所示，根據(jù)本實施例的反射鏡31具有反射表面31a，其不是平面而是向內(nèi)彎曲的拋物面。如圖5所示，具有拋物面形狀的反射表面31a反射從稍后描述的包括于CIS30中的光源38至40發(fā)射的光。此外，反射表面31a以彎曲方式形成，如此以致反射光在其寬度方向直線狀地集中在CIS 30中包括的光接收單元36上。在本實施例中，形成反射表面31a，以便其具有比預(yù)期用于彩色打印機(jī)的記錄介質(zhì)S的反射率更高的反射率。反射鏡31的軸310與步進(jìn)電動機(jī)33的輸出軸310相互聯(lián)接。因此，如果驅(qū)動步進(jìn)電動機(jī)33，則反射鏡31變成可旋轉(zhuǎn)的。結(jié)果，反射表面31a的反射角變成可調(diào)節(jié)的。因此，步進(jìn)電動機(jī)33用作角度調(diào)節(jié)單元。光屏蔽傳感器34檢測反射鏡31的軸311是否存在以及檢測軸311的旋轉(zhuǎn)量。因此，光屏蔽傳感器34用作對邊緣檢測裝置29反射鏡31的安裝狀態(tài)的存在檢測單元以及反射鏡31的旋轉(zhuǎn)角檢測單元。在本實施例中，通過控制步進(jìn)電動機(jī)33的旋轉(zhuǎn)角可以調(diào)節(jié)反射表面31a的反射角，以及在使反射表面31a與吹風(fēng)ロ 35相互相対的狀態(tài)下，通過驅(qū)動吹風(fēng)扇350以便通過吹風(fēng)ロ 35將空氣吹向反射表面31a，可以執(zhí)行去除附在那里的紙粉等等的反射表面31a的清潔。此外，通過使用步進(jìn)電動機(jī)33旋轉(zhuǎn)地移動反射鏡31，將反射鏡31配置為在預(yù)定角度位置可拆卸的，操作人員或者維修人員可以手動地執(zhí)行清潔。也就是說，步進(jìn)電動機(jī)33與 吹風(fēng)扇350配置成清潔單元100。當(dāng)驅(qū)動吹風(fēng)扇350向反射表面31a發(fā)送空氣時，驅(qū)動步進(jìn)電動機(jī)33將反射鏡31移動到預(yù)定角度，在該角度吹風(fēng)ロ 35排出的空氣吹向反射鏡31。在清潔模式M5下執(zhí)行由步進(jìn)電動機(jī)33所產(chǎn)生的反射鏡31的旋轉(zhuǎn)運動以及吹風(fēng)扇的驅(qū)動形成的清潔操作。通過配備在圖I所示的操作面板27上選擇清潔模式M5的操作開關(guān)Gl以及通過在控制裝置300中預(yù)設(shè)清潔模式M5如此以致如果對操作開關(guān)Gl進(jìn)行操作，則執(zhí)行清潔模式M5，可以執(zhí)行清潔模式M5。或者，如果沒有執(zhí)行清潔模式M5，則可以自動執(zhí)行清潔模式M5。在本實施例中，將反射鏡31配置為可拆卸的。因此，不僅能夠通過使用反射鏡31檢測記錄介質(zhì)S的邊緣，而且通過拆卸反射鏡31還能夠藉由傳統(tǒng)檢測方法檢測記錄介質(zhì)S的邊緣。圖6是說明根據(jù)本實施例的CIS 30的配置的示意圖。在圖6中，CIS 30主要包括光接收單元36、移位寄存器37、光源(LED-綠色)38、光源(LED-紅色)39、和光源(LED-藍(lán)色)40。由布置在記錄介質(zhì)S的寬度方向W上的多個光電轉(zhuǎn)換元件像素組成光接收單元36。通過使圖8所示的CIS 30的外側(cè)上配備的LED電流驅(qū)動電路45驅(qū)動信號CIS_LED_G、CIS_LED_B、和CIS_LED_R，調(diào)節(jié)由包括紅色、緑色、和藍(lán)色三種顏色的LED組成的光源38至40的光量(輸出電平)。LED電流驅(qū)動電路45用作光量調(diào)節(jié)單元。圖7說明用于恒流驅(qū)動的CIS_LED (R，G，B)信號的驅(qū)動電路(LED電流驅(qū)動電路45)的示例。在恒流驅(qū)動中，例如,通過如圖7所示的LED電流驅(qū)動電路45用直流(DC)驅(qū)動CIS_LED (R，G，B)信號。在電路中，通過阻抗器預(yù)先確定流入光源38至40的LED的最大電流值。當(dāng)對其供應(yīng)CIS_LED_(R，G，B)0N信號時，通過使晶體三極管操作的切換操作(0N/0FF)，來驅(qū)動在光源38至40中包括的每個LED。當(dāng)以最大電流驅(qū)動光源38至40的LED吋，作為基準(zhǔn)電壓的CIS_RV信號保持恒定，然后調(diào)節(jié)供應(yīng)ON信號到LED的持續(xù)時間(duration)，從而調(diào)節(jié)光源38至40的光量。當(dāng)改變流入LED的電流值時，供應(yīng)ON信號到LED的持續(xù)時間保持恒定，根據(jù)脈寬調(diào)制(PWM)驅(qū)動作為基準(zhǔn)電壓信號的CIS_RV信號，以及改變PMW的驅(qū)動占空比，從而調(diào)節(jié)光源38至40的光量。圖8是說明包括用于由根據(jù)本實施例的邊緣檢測裝置29檢測記錄介質(zhì)5的邊緣的邊緣檢測電路42的控制裝置300的塊電路圖。在如圖8所示的控制裝置300的塊電路圖中，使用圖6所示的CIS 30。另外，控制裝置300還包括比較器41、邊緣檢測電路42、CPU44、CIS控制電路46、閾值設(shè)置電路43、以及圖7所示LED電流驅(qū)動電路45。控制信號從CPU 44輸入到CIS控制電路46。然后，CIS控制電路46向CIS 30以及邊緣檢測電路42供應(yīng)讀出時鐘(CIS_CLK)以及同步信號(CIS_SI)。CIS_SI是用于CIS30的模擬信號(CIS_AN_0UT)的輸出觸發(fā)器,其ー個周期與一行的電荷累積時間(讀出時間/采樣時間)相對應(yīng)。ON信號(C1S_LED_(G，R，Β)_0Ν)和用于確定LED的電流值的基準(zhǔn)電壓信號(CIS_RV)從CIS控制電路46輸入到LED 電流驅(qū)動電路45，LED電流驅(qū)動電路45向CIS 30供應(yīng)驅(qū)動LED的驅(qū)動電流。閾值設(shè)置電路43接收來自CIS控制電路46的、與反射鏡31有無一致的一位數(shù)字(高或低)信號，以及向比較器41供應(yīng)閾值電壓Xl和X2作為根據(jù)反射鏡31有無的閾值。閾值設(shè)置電路43切換從CIS控制電路46輸入的信號,從而使能在使用反射鏡31時設(shè)置的閾值電壓Xl與不使用反射鏡31時設(shè)置的閾值電壓X2之間進(jìn)行切換。當(dāng)在不進(jìn)行拆卸的狀況下始終在安裝狀態(tài)使用反射鏡31時，不需要閾值設(shè)置電路43以及設(shè)置閾值電壓XI。CIS 30由CIS控制電路46供應(yīng)讀出時鐘(C1S_CLK)和同步信號(CIS_SI)以及由LED電流驅(qū)動電路45供應(yīng)光源36至40的驅(qū)動電流，以及向比較器41輸出模擬信號(CIS_AN_0UT)。來自CIS 30的模擬信號(CIS_AN_0UT)以及來自閾值設(shè)置電路43的閾值電壓輸入到比較器41。然后，比較器41將模擬信號(CIS_AN_0UT)轉(zhuǎn)換為ニ進(jìn)制數(shù)字信號，并且將ニ進(jìn)制數(shù)字信號作為數(shù)字信號(CIS_DIN)輸出到邊緣檢測電路42。在轉(zhuǎn)換過程中，當(dāng)使用反射鏡31吋，閾值設(shè)置電路43設(shè)置使用反射鏡31時設(shè)置的閾值電壓Xl ;當(dāng)不使用反射鏡31吋，閾值設(shè)置電路43設(shè)置不使用反射鏡時設(shè)置的閾值電壓X2。此外，當(dāng)使用反射鏡31時，根據(jù)設(shè)置的閾值電壓Xl調(diào)節(jié)由圖6所示的三種顏色的LED組成的光源38至40的光量。另ー方面，當(dāng)不使用反射鏡31時，用預(yù)設(shè)光量驅(qū)動光源38至40。邊緣檢測電路42從比較器41接收數(shù)字信號(CIS_DIN)，以及從CIS驅(qū)動電路接收讀出時鐘(CIS_CLK)和同步信號(CIS_SI)，然后輸出指示記錄介質(zhì)S的邊緣Sa的門信號(P_EDGE)到 CPU 44。門信號(P_EDGE)從邊緣檢測電路42輸入到CPU 44。CPU 44經(jīng)由內(nèi)部處理從門信號中生成計數(shù)值，相對于參考像素而計算差別值，以及輸出差別值到系統(tǒng)控制電路47。系統(tǒng)控制電路47可以基于輸出的差別值(B卩，邊緣信息)而校正主掃描方向上的對準(zhǔn)以及計算歪斜量。此外，CPU 44根據(jù)反射鏡31的有無切換光源38至40的發(fā)光持續(xù)時間，以及當(dāng)使用反射鏡31時調(diào)節(jié)光源38至40的光量。然后，CPU 44輸出控制信號到CIS控制電路46。圖9A以及9B是說明邊緣檢測電路42的操作的定時圖。圖9A是當(dāng)不使用反射鏡31時的定時圖，圖9B是當(dāng)使用反射鏡31時的定時圖。CIS_CLK表示讀出時鐘，CIS_SI表示同步信號以及是模擬信號(CIS_AN_0UT)的輸出觸發(fā)器的信號，CIS_LED_(R，G，Β)_0Ν表示光源38至40的驅(qū)動信號，CIS_RV表示基準(zhǔn)電壓信號，CIS_AN_0UT表示從CIS的模擬輸出，CIS_DIN表示從比較器41輸出的數(shù)字信號，如圖8所示，如圖8所示的P_EDGE表示從邊緣檢測電路42輸出到CPU 44的門信號，而COUNTER表示CPU 44的內(nèi)部計數(shù)器。在CIS_SI是高的定時，與CIS_CLK的上升沿同步地將COUNTER復(fù)位為“O” (圖9A中的(a))。在CIS_CLK隨后的上升沿，CIS_LED_(R，G，B)_0N信號變成高，從而使光源38至40發(fā)射光。此外，在同一定吋，COUNTER開始計數(shù)(圖9A中的(b))。在CIS_AN_0UT變成高于閾值電壓X2的定時，CIS_DIN變成高(圖9A中的(C))。在CIS_DIN是高(當(dāng)存在記錄介質(zhì)S時“高”)的定時，噴嘴過濾器(未示出)的計數(shù)器與CIS_CLK的上升沿同步地開始計數(shù)(圖9A中的(d))。當(dāng)對于四個毗鄰像素CIS_DIN都是高時，確定存在記錄介質(zhì)S的邊緣Sa，以及將P.EDGE信號設(shè)置為高(圖9A中的(e))。利用該操作，保持COUNTER的值。在圖9A中，COUNTER的值保持為“7”。此外，在CPU 44設(shè)置的間隔內(nèi)將CIS_LED_(R，G，B)_0N變成低，終止從光源38至40發(fā)射光(圖9A中的(f))。注意，圖9A說明不使用反射鏡31的情況。在這種情況下，當(dāng)不存在記錄介質(zhì)S時，CIS_DIN是低，當(dāng)檢測到記錄介質(zhì)S吋，CIS_DIN變成高。相反，圖9B說明使用反射鏡31的情況。在這種情況下，與圖9A所示的不使用反射鏡31的情況相反，當(dāng)不存在記錄介質(zhì)S吋，CIS_DIN是高，當(dāng)檢測到記錄介質(zhì)S吋，CIS_DIN變成低。因此，在CIS_AN_0UT變成低于閾值電壓Xl的定時(圖9B中的(g))，CIS_DIN變成低。此外，當(dāng)對于四個毗鄰像素CIS_DIN均是低時，確定存在記錄介質(zhì)S的邊緣Sa，以及將P_EDGE信號設(shè)置為高(圖9B中的(h))。作為從CIS_SI變成高的定時直到P_EDGE變成高時為止的參考像素數(shù)量，由系統(tǒng)針對要使用的記錄介質(zhì)的每個預(yù)先確定的值存儲在存儲器(未示出)中。從CIS_SI變成高的定時直到P_EDGE變成高時為止，CPU 44基于ー張記錄介質(zhì)而檢測像素數(shù)量(COUNTER)，以及相對于參考像素數(shù)量計算差別。圖10是說明光量調(diào)節(jié)模式M3以及反射鏡31的角度調(diào)節(jié)模式M4和清潔模式M5的內(nèi)容的控制流程圖。應(yīng)當(dāng)注意，只有當(dāng)使用反射鏡31時，才應(yīng)用該流程。當(dāng)不使用反射鏡31時，光量是恒定的，因此該流程不應(yīng)用于此。在圖8所示的CIS控制電路46上執(zhí)行該控制例程。當(dāng)反射鏡31安裝到邊緣檢測 裝置29上時，圖6中的CIS 30的光源38至40的驅(qū)動持續(xù)時間設(shè)置為MAX (最大值)(步驟SI)。作為確定反射鏡31是否安裝到邊緣檢測裝置29上的信號，使用來自光屏蔽傳感器34的輸出。在該狀態(tài)，使光源38至40發(fā)光，以及確定對于所有像素P_EDGE信號是否為高(步驟S2)。當(dāng)對于所有像素P_EDGE信號是高吋，完成角度調(diào)節(jié)以及處理前進(jìn)到步驟S9的光源調(diào)節(jié)。當(dāng)在步驟S2并非對于所有像素P_EDGE的信號都是高時，驅(qū)動圖2所示的步進(jìn)電動機(jī)33改變反射鏡31的角度(步驟S3)。在改變了角度之后，使光源38至40發(fā)光以及確定對于所有像素P_EDGE信號是否為高(步驟S4)。然后，類似于上述情況，當(dāng)對于所有像素P_EDGE信號是高時，完成角度調(diào)節(jié)，過程前進(jìn)到步驟S9的光源調(diào)節(jié)。這些處理配置成角度調(diào)節(jié)模式M4。
當(dāng)在步驟S4并非對于所有像素P_EDGE信號都是高吋，確定反射鏡31的角度是否到達(dá)可改變角度范圍的上限(步驟S5)。當(dāng)反射鏡31的角度沒有到達(dá)上限時，過程返回到步驟S3，執(zhí)行類似于以上的處理。在流程中，如附圖標(biāo)記A所示的步驟S3至S5的處理是反射鏡31的初始設(shè)置操作，與角度調(diào)節(jié)模式M4相對應(yīng)，以及還充當(dāng)污染檢測單元120的操作。也就是說，當(dāng)并非對于所有像素P_EDGE信號都是高時，確定記錄介質(zhì)被污染。在步驟S5，當(dāng)反射鏡31到達(dá)反射鏡31可以旋轉(zhuǎn)移動的角度范圍的上限時，確定反射表面31a被污染，以及確定是否執(zhí)行了清潔模式M5 (步驟S6)。通過參考執(zhí)行清潔模式M5時存儲的COUNTER的值或者通過確定是否存在執(zhí)行清潔模式M5時設(shè)置的標(biāo)志，確定是否執(zhí)行了清潔模式M5。當(dāng)沒有執(zhí)行清潔模式M5吋，執(zhí)行清潔模式M5 (步驟S7)，處理返回到步驟S2以及執(zhí)行類似于以上的過程。清潔模式M5是由圖2所示的步進(jìn)電動機(jī)33旋轉(zhuǎn)反射鏡31，在旋轉(zhuǎn)反射鏡31的同時驅(qū)動吹風(fēng)扇350，從而用吹風(fēng)扇350吹出的空氣去除反射鏡31上的灰塵的模式。在步驟S6，當(dāng)已經(jīng)執(zhí)行了清潔模式M5時，在圖I所示的操作面板27上顯示錯誤消息(步驟S8)。然后，完成了光量調(diào)節(jié)以及角度調(diào)節(jié)。在正常結(jié)束了反射鏡31的角度調(diào)節(jié)之后，從包括調(diào)節(jié)光源38至40的發(fā)光持續(xù)時 間的方法以及根據(jù)PWM驅(qū)動基準(zhǔn)電壓來調(diào)節(jié)PWM的占空比(改變電流值)的方法的多個方法之中選擇LED光量調(diào)節(jié)方法(步驟S9)。也就是說，可以選擇第一模式Ml或者第二模式M2。在本實施例中，將PMV驅(qū)動基準(zhǔn)電壓設(shè)置為缺省選項。當(dāng)沒有選擇PMV驅(qū)動基準(zhǔn)電壓吋，確定選擇調(diào)節(jié)光源38至40的發(fā)光持續(xù)時間。為了選擇第一模式Ml和第二模式M2之一，可以在操作面板27上配備選擇開關(guān)等等作為選擇単元，以及通過選擇開關(guān)輸入的指定信號可以確定選擇。當(dāng)調(diào)節(jié)光源38至40的發(fā)光持續(xù)時間時，光源38至40的驅(qū)動持續(xù)時間設(shè)置為Min (最小值)(步驟S10)。在該狀態(tài)，使光源38至40發(fā)光以及確定對于所有像素P_EDGE信號是否為高(步驟Sll)。當(dāng)對于所有像素P_EDGE信號是高時，完成了光量調(diào)節(jié)以及角度調(diào)節(jié)。當(dāng)并非對于所有像素P_EDGE信號都是高吋，改變光源38至40的驅(qū)動持續(xù)時間(使驅(qū)動持續(xù)時間更長)(步驟S12)。其后，使光源38至40發(fā)光以及再次確定對于所有像素P_EDGE信號是否為高(步驟S13)。然后，類似于上述過程，當(dāng)對于所有像素P_EDGE信號是高時，完成了光量調(diào)節(jié)以及角度調(diào)節(jié)。當(dāng)并非對于所有像素P_EDGE信號都是高時，過程返回到步驟Sll以及執(zhí)行類似于以上的流程。 另ー方面，當(dāng)在步驟S9選擇PWM驅(qū)動時，將基準(zhǔn)電壓的PWM占空比設(shè)置為Min (最小值)(步驟S14)。在該狀態(tài)，使光源38至40發(fā)光以及確定對于所有像素P_EDGE信號是否為高(步驟S15)。當(dāng)對于所有像素P_EDGE信號是高時，完成了光量調(diào)節(jié)以及角度調(diào)節(jié)。當(dāng)并非對于所有像素P_EDGE信號都是高吋，改變光源38至40 (LED)的PWM占空比(以便為更高)(步驟S16)。其后，使光源38至40 (LED)再次發(fā)光以及確定對于所有像素P_EDGE信號是否為高(步驟S17)。然后，用與上述情況同樣的方式，當(dāng)對于所有像素P_EDGE信號是高吋，完成了光量調(diào)節(jié)以及角度調(diào)節(jié)。當(dāng)并非對于所有像素P_EDGE信號都是高吋，過程返回到步驟S16以及執(zhí)行與以上處理相同的處理，直到對于所有像素P_EDGE信號都變成高時為止。在本實施例中，由第一模式Ml以及第ニ模式M2配置成光量調(diào)節(jié)模式M3。圖IlA以及IlB是說明CIS 30的輸出電平與像素位置之間的關(guān)系的圖。圖IlA說明不使用反射鏡31的情況。在圖IlA中，將作為閾值電壓X2的比較器電壓設(shè)置為CIS輸出電平的最大值與最小值的平均值。因此，雖然能夠檢測諸如ー張白紙的、具有高反射率的記錄介質(zhì)S，但是不能檢測諸如ー張有色紙的、具有低反射率的記錄介質(zhì)S。此外，在其上不存在記錄介質(zhì)5的部分的CIS輸出電平為低電平，而在其上存在記錄介質(zhì)S的部分的CIS輸出電平為高電平。將輸出電平在超過閾值電壓X2時從低變成高的像素檢測為記錄介質(zhì)S的邊緣Sa。圖IlB說明使用反射鏡31的情況。在圖IlB中，將充當(dāng)閾值電壓Xl的比較器電壓設(shè)置為比CIS輸出電平的最大值低大約數(shù)百mV的值。由此，因為在光量調(diào)節(jié)吋，調(diào)節(jié)發(fā)光量以致于對于所有像素反射鏡31的光接收量都超過閾值電壓XI，所以可以將閾值電壓Xl設(shè)置為接近于CIS輸出電平的最大值的值。此外，與不使用反射鏡31的情況相反，在其上不存在記錄介質(zhì)S的反射鏡31的部分的CIS輸出電平為高電平(上限值)，而在其上存在記錄介質(zhì)S的反射鏡31的部分的CIS輸出電平為低電平。因此，當(dāng)使用反射鏡31吋，將 輸出電平在降低到閾值電壓Xl之下時從高改變?yōu)榈偷南袼貦z測為記錄介質(zhì)S的邊緣Sa。當(dāng)如圖IlA所示不使用反射鏡31時,為了應(yīng)對具有不希望的反射率性質(zhì)的記錄介質(zhì)S，要求光源38至40的發(fā)光持續(xù)時間更長，以便從CIS 30獲得更大的輸出。另ー方面，當(dāng)使用反射鏡31時，反射鏡31具有比白紙更高的反射率，以及可以根據(jù)來自反射鏡31的反射光的輸出調(diào)節(jié)光源38至40的光量。因此，在這種情況下，與不使用反射鏡31的情況相比，可以縮短光源38至40的發(fā)光持續(xù)時間。因此，可以降低光源38至40的負(fù)荷(load)以提高其持久性，從而使其使用期更長。另外，可以高精度地檢測具有不同反射率的記錄介質(zhì)S的邊緣。此外，與一行的電荷累積時間(讀出時間/采樣時間)相對應(yīng)的圖8所示的CI5_5I依賴于光源38至40的發(fā)光持續(xù)時間。因此，如果縮短光源38至40的發(fā)光持續(xù)時間，也可以縮短電荷累積時間(讀出時間/采樣時間)。在檢測記錄介質(zhì)S邊緣的傳統(tǒng)方法中，使從CIS 30的光源(LED)發(fā)射的光由記錄介質(zhì)S反射。然后，反射光由CIS 30接收，以及確定在接收比確定閾值更多的光的像素上存在記錄介質(zhì)S，以及確定在接收等于或者小于確定閾值的光的像素上不存在記錄介質(zhì)S。此夕卜，將這些像素之間的分界檢測為記錄介質(zhì)S的邊緣Sa。因此，依賴于將要使用的CIS 30的光源的發(fā)光波長或者記錄介質(zhì)S的反射率性質(zhì)，由記錄介質(zhì)反射的反射光的光量是不充分的。在這種情況下，即使在其上存在記錄介質(zhì)S的部分上也不能接收光量超過閾值的光，從而不能確定是否存在記錄介質(zhì)。因此，難以檢測記錄介質(zhì)3的邊緣Sa。然而，如在本實施例中，將作為具有比將要使用的記錄介質(zhì)S的反射率更高的反射率的反射部件的ー種形式的反射鏡31以反射鏡31可以接收更多反射光的角度安裝在CIS 30的下面部分上。此外，從CIS 30的光源38至40發(fā)射的照射光由具有高反射率的反射表面31a以及記錄介質(zhì)S反射，以及反射光由CIS 30的光接收單元36接收。由此，因為由具有高反射率的反射表面31a反射的光的強(qiáng)度比由記錄介質(zhì)S反射的光的強(qiáng)度更高，所以確定在接收了比閾值Xl更多反射光的像素上不存在記錄介質(zhì)，以及確定在接收更少光的像素上存在記錄介質(zhì)S。因此，將這些像素之間的分界檢測為記錄介質(zhì)S的邊緣Sa。相應(yīng)地，即使當(dāng)使用光反射不充分的記錄介質(zhì)時，也可以檢測記錄介質(zhì)S的邊緣Sa。此外，也可以不依賴于將要使用的CIS 30的光源38至40的發(fā)光波長或者記錄介質(zhì)S的反射率性質(zhì)地高精度地檢測記錄介質(zhì)S的邊緣Sa。此外，可以降低檢測邊緣所需要的發(fā)光量，以便縮短由LED組成的光源38至40的發(fā)光持續(xù)時間。另外，可以降低發(fā)光強(qiáng)度，以便使光源38至40 (LED)的壽命更長。此外，縮短光源38至40的發(fā)光持續(xù)時間，以便縮短邊緣檢測時間。在包括邊緣檢測裝置29的這樣的彩色打印機(jī)中，即使當(dāng)使用具有不同反射率值的各種記錄介質(zhì)S時，也可以在短時間內(nèi)精確地檢測其邊緣。因此，彩色打印機(jī)具有高用紙能力以及可以精確地計算具有不同反射率值的各種記錄介質(zhì)S上的主掃描對準(zhǔn)校正量以及歪斜量，從而獲得優(yōu)選的圖像。在本實施例中，邊緣檢測裝置29的反射鏡31可從金屬板支架320拆卸。控制裝置300具有分別與反射鏡31安裝和沒安裝的情況相對應(yīng)的閾值Xl和X2，以及使用閾值Xl和X2確定記錄介質(zhì)S的邊緣Sa。因此，邊緣檢測裝置29可以作為可選裝置安裝到不包括邊緣檢測裝置29的彩色打印機(jī)上，從而增加了設(shè)備的通用性。在本實施例中，包括檢測反射鏡31的反射表面31a上的污染物的污染檢測單元120以及清潔單元100。如果污染檢測單元120檢測到反射表面31a被污染了，則通過使用清潔單元100執(zhí)行清潔模式M5。相應(yīng)地，可以穩(wěn)定反射表面31a的反射率，以及可以更精確 地檢測記錄介質(zhì)S的邊緣Sa。另外，可以更精確地計算主掃描對準(zhǔn)校正量以及歪斜量，從而獲得更優(yōu)選的圖像。在本實施例中，以反射表面31a反射從光源38至40發(fā)射的更多反射光到光接收單元36的光電轉(zhuǎn)換元件像素的角度設(shè)置反射鏡31的反射表面31a。更具體地，形成光接收單元36以致于將反射光聚集在光接收單元36中的光電轉(zhuǎn)換元件像素的ー個點上。因此，光接收單元36的光接收靈敏度增加，以便可以更精確地檢測記錄介質(zhì)S的Sa。另外，可以更精確地計算主掃描對準(zhǔn)校正量以及歪斜量，從而獲得更優(yōu)選的圖像。此外，具有角度調(diào)節(jié)模式M4，用于控制反射鏡31的反射表面31a處于將反射鏡31的反射表面31a反射的更多光反射到光接收單元36中的光電轉(zhuǎn)換元件像素上的角度。因此，與反射表面31a的形狀相結(jié)合，增加了光接收單元36的光接收靈敏度，因此可以更精確地檢測記錄介質(zhì)S的邊緣Sa。另外，可以更精確地計算主掃描對準(zhǔn)校正量以及歪斜量，從而獲得更優(yōu)選的圖像。根據(jù)本實施例，由反射単元的反射表面反射的反射光的強(qiáng)度比記錄介質(zhì)反射的反射光的強(qiáng)度更高。因此，可以確定在像素接收超過閾值的光量時光電轉(zhuǎn)換元件像素上不存在記錄介質(zhì)，以及還確定在接收具有小于閾值的量的光的像素上存在記錄介質(zhì)。此外，通過檢測像素之間的分界作為記錄介質(zhì)的邊緣，即使使用光反射不充分的記錄介質(zhì)，也可以檢測記錄介質(zhì)的邊緣。相應(yīng)地，可以在短時間內(nèi)不依賴于光源的發(fā)光波長或者記錄介質(zhì)的反射率性質(zhì)地精確地檢測各種類型的記錄介質(zhì)的邊緣。除了可以精確地檢測記錄介質(zhì)的邊緣之外，還降低了檢測邊緣所需要的發(fā)光量，因此可以縮短光源的發(fā)光時間以及可以降低其發(fā)光強(qiáng)度。使得能夠延長光源的壽命。雖然根據(jù)具體實施例完整而清晰地描述了本發(fā)明，但是并不因此而限制伴隨權(quán)利要求，而是對于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說，在完全屬于在此陳述的基本教導(dǎo)內(nèi)，應(yīng)該理解成本發(fā)明包含可能發(fā)生的所有修改以及替代。
權(quán)利要求
1.ー種邊緣檢測裝置，用于檢測移動的記錄介質(zhì)的邊緣，該邊緣檢測裝置包括 反射單元，其包括具有比記錄介質(zhì)的反射率更高的反射率的反射表面； 光源，用光照射記錄介質(zhì)和反射単元的反射表面； 光接收單元，包括在記錄介質(zhì)的寬度方向上布置的多個光電轉(zhuǎn)換元件像素，在光電轉(zhuǎn)換元件像素上接收從光源發(fā)射并且由記錄介質(zhì)和反射単元的反射表面反射的反射光；和 控制單元，判定在光接收單元中給出比預(yù)定閾值高的輸出的光電轉(zhuǎn)換元件像素的區(qū)域作為記錄介質(zhì)的邊緣。
2.根據(jù)權(quán)利要求I的邊緣檢測裝置，其中 該反射単元可從檢測裝置主體拆卸；和 該控制単元具有與反射単元安裝到檢測裝置主體的情況和反射単元未安裝到檢測裝置主體的另ー情況的每種情況相對應(yīng)的判定閾值，以及使用每種情況的判定閾值判定記錄介質(zhì)的邊緣。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或者2的邊緣檢測裝置，還包括光量調(diào)節(jié)單元，其根據(jù)從光接收單元的輸出調(diào)節(jié)從光源發(fā)射的照射光的光量。
4.根據(jù)權(quán)利要求I或者2的邊緣檢測裝置，還包括角度調(diào)節(jié)單元，其調(diào)節(jié)反射単元的反射表面的角度。
5.根據(jù)權(quán)利要求I或者2的邊緣檢測裝置，還包括污染檢測單元，其檢測反射単元的反射表面上的污染。
6.根據(jù)權(quán)利要求I或者2的邊緣檢測裝置，還包括清潔單元，其清潔反射単元的反射表面。
7.根據(jù)權(quán)利要求I或者2的邊緣檢測裝置，還包括第一単元，其檢測反射単元的有無。
8.根據(jù)權(quán)利要求I或者2的邊緣檢測裝置，其中 將反射単元的反射表面設(shè)置于將從光源發(fā)射的光反射到光接收單元中的光電轉(zhuǎn)換元件像素上的角度。
9.根據(jù)權(quán)利要求8的邊緣檢測裝置，其中 形成該反射單元的反射表面，以便將該反射表面反射的反射光直線狀地集中在光接收單元中的光電轉(zhuǎn)換元件像素的寬度方向上。
10.根據(jù)權(quán)利要求3的邊緣檢測裝置，其中 該光量調(diào)節(jié)單元具有控制以最大電流驅(qū)動光源的第一模式和可變地控制流向光源的電流的第二模式。
11.根據(jù)權(quán)利要求3的邊緣檢測裝置，其中該邊緣檢測裝置具有光量調(diào)節(jié)模式，其中根據(jù)從光接收單元的輸出控制從光源發(fā)射的光的光量。
12.根據(jù)權(quán)利要求4的邊緣檢測裝置，其中該邊緣檢測裝置具有角度調(diào)節(jié)模式，其中控制該反射単元的反射表面反射的更多反射光處于朝向光接收單元的光電轉(zhuǎn)換元件像素的角度。
13.根據(jù)權(quán)利要求6的邊緣檢測裝置，其中 該邊緣檢測裝置具有清潔模式，其中自動清潔反射単元的反射表面。
14.根據(jù)權(quán)利要求7的邊緣檢測裝置，其中 該邊緣檢測裝置具有檢測該記錄介質(zhì)的邊緣的多個模式，和基于來自檢測反射単元有無的第一単元的檢測結(jié)果，選擇性地切換模式。
15.一種圖像形成設(shè)備，包括 轉(zhuǎn)印單元，轉(zhuǎn)印圖像載體上形成的調(diào)色劑圖像； 輸送路徑，在其上向該轉(zhuǎn)印單元輸送安放在紙張饋送単元中的記錄介質(zhì)；和邊緣檢測單元，配備于記錄介質(zhì)移動方向上轉(zhuǎn)印單元的上游，用于檢測正在移動的記錄介質(zhì)的邊緣，其中 邊緣檢測單元是根據(jù)權(quán)利要求I至14任一項的邊緣檢測単元。
全文摘要
一種用于檢測移動的記錄介質(zhì)的邊緣的邊緣檢測裝置，包括反射單元，其包括具有比記錄介質(zhì)的反射率更高的反射率的反射表面；光源，用光照射記錄介質(zhì)和反射單元的反射表面；光接收單元，包括布置在記錄介質(zhì)的寬度方向上的多個光電轉(zhuǎn)換元件像素，在光電轉(zhuǎn)換元件像素上接收從光源發(fā)射并且由記錄介質(zhì)以及反射單元的反射表面反射的反射光；和控制單元，判定在光接收單元中給出比預(yù)定閾值高的輸出的光電轉(zhuǎn)換元件像素的區(qū)域作為記錄介質(zhì)的邊緣。
文檔編號G03G15/00GK102692841SQ20121008816
公開日2012年9月26日 申請日期2012年3月19日 優(yōu)先權(quán)日2011年3月18日
發(fā)明者坂圭介 申請人:株式會社理光