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一種pcb可測性快速標識方法

文檔序號:6353878閱讀:358來源:國知局
專利名稱:一種pcb可測性快速標識方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種EDA技術(shù)領(lǐng)域,具體地說是一種PCB可測性快速標識方法。
背景技術(shù)
EDA技術(shù)就是以計算機為工具,設(shè)計者在EDA軟件平臺上,用硬件描述語言HDL完 成設(shè)計文件,然后由計算機自動地完成邏輯編譯、化簡、分割、綜合、優(yōu)化、布局、布線和仿 真,直至對于特定目標芯片的適配編譯、邏輯映射和編程下載等工作。EDA技術(shù)的出現(xiàn),極大 地提高了電路設(shè)計的效率和可操作性,減輕了設(shè)計者的勞動強度。EDA工具軟件可大致可分為芯片設(shè)計輔助軟件、可編程芯片輔助設(shè)計軟件、系統(tǒng)設(shè) 計輔助軟件等三類。按主要功能或主要應(yīng)用場合,分為電路設(shè)計與仿真工具、PCB設(shè)計軟件、 IC設(shè)計軟件、PLD設(shè)計工具及其它EDA軟件。PCB (印制電路板)設(shè)計是以電路原理圖為根據(jù),實現(xiàn)電路設(shè)計者所需要的功能。 隨著PCB設(shè)計的復(fù)雜度越來越大,對ICT針床的可測性提出更高的要求,如ICT針床可測覆 蓋率比較低時,PCB焊接質(zhì)量很難控制,因此在PCB設(shè)計時如何檢查各網(wǎng)絡(luò)的可測性至關(guān)重要。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的技術(shù)任務(wù)是提供一種實現(xiàn)了對ICT針床信號的可測性進行較為科學(xué)、準 確的分析,有利于提高PCB焊接的質(zhì)量,進一步提高了 PCB設(shè)計效率的一種PCB可測性快速 標識方法。本發(fā)明的技術(shù)任務(wù)是按以下方式實現(xiàn)的,對PCB上的NET屬性增加可測試屬性,可 導(dǎo)出每個NET的可測試屬性,通過外掛可測試性分析控件,分析NET的可測試性,并生成分 析報告和建議。可測試分析控件對NET的可測試性進行分析,計算總NET和可測量的NET,并得出 總測試覆蓋率;還可根據(jù)電源類,內(nèi)存類,總線類,時鐘類信號對NET進行分類,并得出各類 線的測試覆蓋率;最后生成可測試分析表,分析報告及建議。可測試性分析控件根據(jù)PCB的每類線的焊接經(jīng)驗指定線長、線寬、線距要求,對 PCB的電源地線的焊錫厚度進行調(diào)整,可測試性分析控件根據(jù)這些參數(shù)提取可測試性,最后 生成可測試分析表,分析報告及建議。在PCB中對NET進行屬性設(shè)置,若可測為test,不可測為untest,導(dǎo)出NET的可測 試分析表和分析報告,根據(jù)可測試分析表及報告對PCB板焊接參數(shù)及設(shè)計進行調(diào)整。具體步驟包括 (1)、可測試分析控件對NET的可測試性進行分析,計算總NET和可測量的NET,并 得出總測試覆蓋率; (2)、根據(jù)電源類,內(nèi)存類,總線類,時鐘類信號對NET進行分類,并得出各類線的 測試覆蓋率;
(3)、生成可測試分析表,分析報告及建議;、導(dǎo)出NET的可測試分析表和分析報告;(5)、導(dǎo)出NET的可測試分析表和分析報告,如可測試覆蓋率不滿足要求,則對PCB 焊接參數(shù)及設(shè)計進行調(diào)整,重新測試,直到達到要求。本發(fā)明的一種PCB可測性快速標識方法具有以下優(yōu)點實現(xiàn)了對ICT針床信號的 可測性進行較為科學(xué)、準確的分析,有利于提高PCB焊接的質(zhì)量,進一步提高了 PCB設(shè)計效 率,使用這種方法,可以對焊接質(zhì)量進行很好的控制,可以大大縮短PCB板設(shè)計周期,并能 加快產(chǎn)品上市時間。


下面結(jié)合附圖對本發(fā)明進一步說明。附圖1為一種PCB可測性快速標識方法的示意圖。
具體實施例方式參照說明書附圖和具體實施例對本發(fā)明的一種PCB可測性快速標識方法作以下 詳細地說明。實施例 本發(fā)明的一種PCB可測性快速標識方法,對PCB上的NET屬性增加可測試屬性,可 導(dǎo)出每個NET的可測試屬性,通過外掛可測試性分析控件,分析NET的可測試性,并生成分 析報告和建議。可測試分析控件對NET的可測試性進行分析,計算總NET和可測量的NET,并得出 總測試覆蓋率;還可根據(jù)電源類,內(nèi)存類,總線類,時鐘類信號對NET進行分類,并得出各類 線的測試覆蓋率;最后生成可測試分析表,分析報告及建議。可測試性分析控件根據(jù)PCB的每類線的焊接經(jīng)驗指定線長、線寬、線距要求,對 PCB的電源地線的焊錫厚度進行調(diào)整,可測試性分析控件根據(jù)這些參數(shù)提取可測試性,最后 生成可測試分析表,分析報告及建議。在PCB中對NET進行屬性設(shè)置,若可測為test,不可測為untest,導(dǎo)出NET的可測 試分析表和分析報告,根據(jù)可測試分析表及報告對PCB板焊接參數(shù)及設(shè)計進行調(diào)整。具體步驟包括(1)、可測試分析控件對NET的可測試性進行分析,計算總NET和可測量的NET,并 得出總測試覆蓋率;(2)、根據(jù)電源類,內(nèi)存類,總線類,時鐘類信號對NET進行分類,并得出各類線的 測試覆蓋率;(3)、生成可測試分析表,分析報告及建議;、導(dǎo)出NET的可測試分析表和分析報告;(5)、導(dǎo)出NET的可測試分析表和分析報告,如可測試覆蓋率不滿足要求,則對PCB 焊接參數(shù)及設(shè)計進行調(diào)整,重新測試,直到達到要求。除說明書所述的技術(shù)特征外,均為本專業(yè)技術(shù)人員的已知技術(shù)。
權(quán)利要求
1.一種PCB可測性快速標識方法,其特征在于對PCB上的NET屬性增加可測試屬性,可 導(dǎo)出每個NET的可測試屬性,通過外掛可測試性分析控件,分析NET的可測試性,并生成分 析報告和建議。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PCB可測性快速標識方法,其特征在于可測試分析控件 對NET的可測試性進行分析,計算總NET和可測量的NET,并得出總測試覆蓋率;還可根據(jù) 電源類,內(nèi)存類,總線類,時鐘類信號對NET進行分類,并得出各類線的測試覆蓋率;最后生 成可測試分析表,分析報告及建議。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PCB可測性快速標識方法,其特征在于可測試性分析控 件根據(jù)PCB的每類線的焊接經(jīng)驗指定線長、線寬、線距要求,對PCB的電源地線的焊錫厚度 進行調(diào)整,可測試性分析控件根據(jù)這些參數(shù)提取可測試性,最后生成可測試分析表,分析報 告及建議。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PCB可測性快速標識方法,其特征在于在PCB中對NET 進行屬性設(shè)置,若可測為test,不可測為imtest,導(dǎo)出NET的可測試分析表和分析報告,根 據(jù)可測試分析表及報告對PCB板焊接參數(shù)及設(shè)計進行調(diào)整。
5.根據(jù)權(quán)利要求1、2、3或4所述的一種PCB可測性快速標識方法,其特征在于具體步 驟包括(1)、可測試分析控件對NET的可測試性進行分析,計算總NET和可測量的NET,并得出 總測試覆蓋率;(2)、根據(jù)電源類,內(nèi)存類,總線類,時鐘類信號對NET進行分類,并得出各類線的測試覆蓋率;(3)、生成可測試分析表,分析報告及建議; 、導(dǎo)出NET的可測試分析表和分析報告;(5)、導(dǎo)出NET的可測試分析表和分析報告,如可測試覆蓋率不滿足要求,則對PCB焊接 參數(shù)及設(shè)計進行調(diào)整,重新測試,直到達到要求。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種PCB可測性快速標識方法,屬于EDA技術(shù)領(lǐng)域,對PCB上的NET屬性增加可測試屬性,可導(dǎo)出每個NET的可測試屬性,通過外掛可測試性分析控件,分析NET的可測試性,并生成分析報告和建議。可測試分析控件對NET的可測試性進行分析,計算總NET和可測量的NET,并得出總測試覆蓋率;根據(jù)電源類,內(nèi)存類,總線類,時鐘類信號對NET進行分類,并得出各類線的測試覆蓋率;生成可測試分析表,分析報告及建議;導(dǎo)出NET的可測試分析表和分析報告;導(dǎo)出NET的可測試分析表和分析報告。本發(fā)明實現(xiàn)了對ICT針床信號的可測性進行較為科學(xué)、準確的分析,有利于提高PCB焊接的質(zhì)量,進一步提高了PCB設(shè)計效率。
文檔編號G06F17/50GK102147823SQ20111003015
公開日2011年8月10日 申請日期2011年1月27日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月27日
發(fā)明者于治樓, 杜光芹, 翟西斌 申請人:浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司
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