一種元素檢測標樣配制及應用方法
【專利摘要】一種元素檢測標樣配制方法，將可被X射線熒光吸收的純物質與不被X射線熒光吸收的物質按不同的比例混合,制成單一可被X射線熒光吸收的純物質梯級標樣。應用方法為：將所需不同的可被X射線熒光吸收的純物質梯級標樣組合形成多種元素梯級組合標樣，根據多種元素梯級組合標樣制測定相應的標準曲線；測其熒光X射線的理論強度，與待檢樣測定的熒光X射線的實測強度與標準曲線比較，而得到待檢樣中元素的含量。優點是：操作簡單、方便、快捷。
【專利說明】一種元素檢測標樣配制及應用方法
[0001]【技術領域】
本發明涉及元素檢測分析【技術領域】，具體說涉及一種元素檢測標樣配制及分析技術。
[0002]【背景技術】
目前在水泥、鋼鐵、冶金、化工、地質、有色、環保、商檢、衛生等行業需要對所用礦石、物料等用X-熒光儀通過X射線吸收譜分析法(X射線吸收譜分析法可測量透過樣品的X射線強度隨波長的變化，根據所揭示的吸收限的波長，即可鑒定樣品中所存在的元素，再通過測定各吸收限上所出現的吸收強度的變化，進行定量分析)進行元素檢測分析，通常應用的方法是實測強度與理論強度的比較，以水泥為例:先用X-熒光儀檢測某個標準產品，得到有含有多個元素(二氧化硅、三氧化二鋁、三氧化二鐵、氧化鈣、氧化鎂)的單個標樣，再檢測另外幾標準產品，得一組含有多個元素的單個標樣，從一組含有多個元素的單個標樣中篩選若干個合適的單個標樣，形成梯級值組合樣本，然后根據梯級值組合樣本建立檢測樣品的標準曲線，然后再將待檢樣通過熒光儀檢測分析，得檢樣曲線，將待檢樣曲線與標準曲線進行比對計算，而得到待檢樣中元素的含量。
[0003]本此標準產品比較法的缺點是:用標準產品建立檢測樣品的標準曲線，檢測工作量大，且含有多個元素的單個標樣中由于含有多個元素，從而限制了使用范圍。
[0004]
【發明內容】
本發明的目的是針對目前X-熒光儀在進行元素檢測分析應用領域中，通常應用的方法是標準產品比較法，針對上述之不足，而提供一種元素檢測標樣配制及應用方法。
[0005]元素檢測標樣配制方法為:
元素檢測標樣配制方法為:
將可被X射線熒光吸收的純物質與不被X射線熒光吸收的物質按不同的比例混合，制成單一可被X射線熒光吸收的純物質梯級標樣。
[0006]不被X射線吸收的物質是是四硼酸鋰或偏硼酸鋰。
[0007]可被X射線熒光吸收的純物質是元素或氧化物。
[0008]元素檢測標樣的應用方法為:將所需不同的可被X射線熒光吸收的純物質梯級標樣組合形成多種元素梯級組合標樣，根據多種元素梯級組合標樣制測定相應的標準曲線；測其熒光X射線的理論強度，與待檢樣測定的熒光X射線的實測強度與標準曲線比較，而得到待檢樣中元素的含量。
[0009]本發明的優點是:本單一元素檢測標樣配制及應用方法，操作簡單、方便、快捷。且由于單一元素梯級標樣中只含一種檢測元素，因而多個不同元素的單一元素梯級標樣可任意組合，形成不同的標準曲線，可廣泛用于對水泥、鋼鐵、冶金、化工產品中的元素分析。
[0010]【具體實施方式】 以水泥檢測為例:
將分析純的二氧化硅與四硼酸鋰按質量10:90、9:91、8:92、7:93、6:94，5:95的比例混合，得6個二氧化硅含量不同的單一化合物檢測標樣，將6個二氧化硅含量不同的單一化合物檢測標樣組合成二氧化硅梯級標樣。以此法再配制得鋁元素梯級標樣、鐵元素梯級標樣、銅元素梯級標樣和鎂元素梯級標樣，然后將二氧化硅梯級標樣、鋁元素梯級標樣、鐵元素梯級標樣、銅元素梯級標樣和鎂元素梯級標樣組合形成5個元素梯級組合標樣，根據5個元素梯級組合標樣制定相應的標準曲線；然后再將待檢樣通過熒光儀檢測分析，得檢樣曲線，將待檢樣曲線與標準曲線進行比對計算，而得到待檢樣中二氧化硅、鋁、鐵、銅和鎂元素的含量。
【權利要求】
1.一種元素檢測標樣配制方法，其特征在于元素檢測標樣配制方法為: 將可被X射線熒光吸收的純物質與不被X射線熒光吸收的物質按不同的比例混合，制成單一可被X射線熒光吸收的純物質梯級標樣。
2.根椐權利要求1所述的一種元素檢測標樣配制方法，其特征在于不被X射線吸收的物質是是四硼酸鋰或偏硼酸鋰。
3.根椐權利要求1或2所述的一種元素檢測標樣配制方法，其特征在于可被X射線熒光吸收的純物質是元素或氧化物。
4.根椐權利要求1、2所述的一種元素檢測標樣配制方法，其特征在于元素檢測標樣的應用方法為:將所需不同的可被X射線熒光吸收的純物質梯級標樣組合形成多種元素梯級組合標樣，根據多種元素梯級組合標樣制測定相應的標準曲線；測其熒光X射線的理論強度，與待檢樣測定的熒光X射線的實測強度與標準曲線比較，而得到待檢樣中元素的含量。
5.根椐權利要求3所述的一種元素檢測標樣配制方法，其特征在于元素檢測標樣的應用方法為:將所需不同的可被X射線熒光吸收的純物質梯級標樣組合形成多種元素梯級組合標樣，根據多種元素梯級組合標樣制測定相應的標準曲線；測其熒光X射線的理論強度，與待檢樣測定的熒光X射線的實測強度與標準曲線比較，而得到待檢樣中元素的含量。
【文檔編號】G01N1/28GK103575581SQ201310316055
【公開日】2014年2月12日 申請日期:2013年7月25日 優先權日:2013年7月25日
【發明者】付曉紅, 郭成洲 申請人:葛洲壩集團水泥有限公司