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一種元器件自動檢測方法與流程

文檔序號:42169614發布日期:2025-06-13 16:25閱讀:14來源:國知局

本申請涉及元器件性能檢測,尤其涉及一種元器件自動檢測方法。


背景技術:

1、目前在航空航天領域電子元器件可靠性篩選工作中,超聲檢測器為元器件內部缺陷的指定無損檢測手段,在檢測過程中需要人工進行器件的擺放、移動、檢測等工序,整個器件的可靠性篩選工序主要靠人工完成,自動化工業程度較低,影響整個篩選效率,人力成本較高。


技術實現思路

1、有鑒于此,本申請的目的在于提出一種元器件自動檢測方法,以解決目前元器件內部缺陷檢測方式自動化程度低、檢測效率低的問題。

2、基于上述目的,本申請提供了一種元器件自動檢測方法,包括:

3、超聲檢測頭準備:將超聲檢測器的超聲檢測頭浸入薄膜容器的水中,其中,薄膜容器的底部為高透膜;

4、元器件預處理:將所述元器件放置在所述移動工位上,所述移動工位將所述元器件運送至噴淋組件下方,噴淋組件對所述元器件的頂面噴淋水霧,得到預處理元器件;

5、預處理元器件檢測:所述移動工位將所述預處理元器件運送至超聲檢測頭的下方,并將所述預處理元器件的頂面抵接高透膜,以使超聲檢測頭的探測端與所述預處理元器件位置相對,超聲檢測器對預處理元器件進行超聲檢測,得到測后元器件;

6、元器件烘干:將所述測后元器件運送至烘干組件,啟動所述烘干組件,將測后元器件烘干。

7、可選的,所述將所述元器件放置在所述移動工位上,包括:上料組件將所述元器件放置在所述移動工位上,其中,上料組件包括第一滑軌、第一滑塊和第一真空吸嘴,部分所述第一滑軌位于所述移動工位上方,所述第一滑塊與所述第一滑軌滑動連接,所述第一真空吸嘴安裝在所述第一滑塊上,所述第一真空吸嘴吸附所述元器件并通過所述第一滑塊和所述第一滑軌將其運送至所述移動工位上。

8、可選的,所述第一真空吸嘴吸附所述元器件并通過所述第一滑塊和所述第一滑軌將其運送至所述移動工位上,包括:所述第一真空吸嘴將吸附的元器件運送至移動工位的卡槽中,其中,所述卡槽貫穿所述移動工位。

9、可選的,所述噴淋組件對所述元器件的頂面噴淋水霧,包括:通過加壓水箱加壓,使水通過噴水管流向噴頭,噴頭位于元器件上方并向元器件頂部噴淋水霧。可選的,所述將所述預處理元器件的頂面抵接高透膜,包括:升降組件控制所述元器件上升以使所述元器件的頂面抵接所述高透膜,其中,升降組件為升降機,所述元器件移動至所述超聲探測頭下方后,升降機的輸出軸貫穿所述卡槽,使所述元器件頂面與所述高透膜抵接。

10、可選的,所述將所述測后元器件運送至烘干組件,包括:出料組件將元器件從移動工位上移出,其中,所述出料組件包括第二真空吸嘴、第二滑塊和第二滑軌,所述第二滑軌安裝在所述安裝平臺上且部分所述第二滑軌位于所述移動工位上方,所述第二滑塊與所述第一滑軌滑動連接,所述第二真空吸嘴安裝在所述第二滑塊上,所述第二真空吸嘴吸附檢測完的元器件并通過所述第二滑塊和所述第二滑軌將該元器件移出所述移動工位。

11、可選的,所述第二真空吸嘴吸附檢測完的元器件并通過所述第二滑塊和所述第二滑軌將該元器件移出所述移動工位,包括:第二真空吸嘴吸附檢測完的元器件移出所述移動工位,并放置在承托盤中。

12、可選的,所述將所述測后元器件運送至烘干組件,還包括:所述承托盤通過第三滑軌滑至所述烘干組件中。

13、可選的,所述超聲檢測器對預處理元器件進行超聲檢測,包括:所述超聲檢測頭向所述元器件發出超聲波和脈沖激光,并接收來自所述元器件返回的超聲波,其中,所述超聲檢測頭的一側設有脈沖激光器,所述脈沖激光器發出脈沖激光,所述超聲檢測頭上設有供脈沖激光穿過的通孔。

14、可選的,所述超聲檢測器的底座空心設置且內部設有反射鏡片,所述脈沖激光器的輸出端通過光纖連接準直器,以使所述準直器的輸出端發出脈沖激光貫穿所述底座并通過所述反射鏡片穿過所述通孔。

15、可選的,所述薄膜容器內壁的一側設有制冷片,以降低水溫。

16、可選的,所述超聲檢測頭包括超聲換能器和檢測頭本體,所述檢測頭本體中空設置,所述超聲換能器安裝在所述檢測頭本體內,所述通孔貫穿設置在所述超聲換能器上,所述超聲換能器用于發射超聲波,并接收來自所述元器件返回的超聲波,將其轉化為超聲波信號。

17、可選的,所述超聲檢測頭還包括透鏡,安裝在所述檢測頭本體內,并設在所述超聲換能器的下方,用于調節所述脈沖激光器發出脈沖激光的光斑大小。

18、基于同一發明構思,本公開還提供了一種電子設備,包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并在處理器上運行的計算機程序,其特征在于,所述處理器執行所述程序時實現如上所述的方法。

19、基于同一發明構思,本公開還提供了一種非暫態計算機可讀存儲介質,所述非暫態計算機可讀存儲介質存儲計算機指令,所述計算機指令用于使計算機執行如上所述的方法。

20、從上面所述可以看出,本申請提供一種元器件自動檢測方法,將元器件放置在移動工位上之后,移動工位帶動元器件轉動至噴淋組件下方,噴淋組件向元器件頂面噴水霧,以打濕元器件頂面,移動工位帶動元器件移動至超聲檢測頭下方,元器件抵接高透膜,高透膜將元器件頂面上的水霧壓平形成超薄水膜,以便超聲檢測頭對元器件進行檢測,超聲檢測頭對元器件檢測完畢后,烘干組件對元器件進行烘干,上述元器件檢測的方法自動化程度高,節省了人力,提高了元器件的檢測效率;另外,這種檢測元器件方式將元器件與超聲檢測頭分隔開,在不影響元器件檢測效果的情況下,避免元器件直接被浸泡在水中,避免元器件內部缺陷被水填充影響檢測效果,從而提高了元器件的檢測精準度。



技術特征:

1.一種元器件自動檢測方法,其特征在于,包括:

2.根據權利要求1所述的一種元器件自動檢測方法,其特征在于,所述將所述元器件放置在所述移動工位(1)上,包括:上料組件(7)將所述元器件放置在所述移動工位(1)上,其中,上料組件(7)包括第一滑軌(71)、第一滑塊(72)和第一真空吸嘴(73),部分所述第一滑軌(71)位于所述移動工位(1)上方,所述第一滑塊(72)與所述第一滑軌(71)滑動連接,所述第一真空吸嘴(73)安裝在所述第一滑塊(72)上,所述第一真空吸嘴(73)吸附所述元器件并通過所述第一滑塊(72)和所述第一滑軌(71)將其運送至所述移動工位(1)上。

3.根據權利要求2所述的一種元器件自動檢測方法,其特征在于,所述第一真空吸嘴(73)吸附所述元器件并通過所述第一滑塊(72)和所述第一滑軌(71)將其運送至所述移動工位(1)上,包括:所述第一真空吸嘴(73)將吸附的元器件運送至移動工位(1)的卡槽(11)中,其中,所述卡槽(11)貫穿所述移動工位(1)。

4.根據權利要求1所述的一種元器件自動檢測方法,其特征在于,所述噴淋組件(2)對所述元器件的頂面噴淋水霧,包括:通過加壓水箱加壓,使水通過噴水管(22)流向噴頭(21),噴頭(21)位于元器件上方并向元器件頂部噴淋水霧。

5.根據權利要求3所述的一種元器件自動檢測方法,其特征在于,所述將所述預處理元器件的頂面抵接高透膜(321),包括:升降組件(4)控制所述元器件上升以使所述元器件的頂面抵接所述高透膜(321),其中,升降組件(4)為升降機,所述元器件移動至所述超聲探測頭下方后,升降機的輸出軸貫穿所述卡槽(11),使所述元器件頂面與所述高透膜(321)抵接。

6.根據權利要求1所述的一種元器件自動檢測方法,其特征在于,所述將所述測后元器件運送至烘干組件(5),包括:出料組件(8)將元器件從移動工位(1)上移出,其中,所述出料組件(8)包括第二真空吸嘴(81)、第二滑塊(82)和第二滑軌(83),所述第二滑軌(83)安裝在所述安裝平臺(6)上且部分所述第二滑軌(83)位于所述移動工位(1)上方,所述第二滑塊(82)與所述第一滑軌(71)滑動連接,所述第二真空吸嘴(81)安裝在所述第二滑塊(82)上,所述第二真空吸嘴(81)吸附檢測完的元器件并通過所述第二滑塊(82)和所述第二滑軌(83)將該元器件移出所述移動工位(1)。

7.根據權利要求6所述的一種元器件自動檢測方法,其特征在于,所述第二真空吸嘴(81)吸附檢測完的元器件并通過所述第二滑塊(82)和所述第二滑軌(83)將該元器件移出所述移動工位(1),包括:第二真空吸嘴(81)吸附檢測完的元器件移出所述移動工位(1),并放置在承托盤(12)中。

8.根據權利要求7所述的一種元器件自動檢測方法,其特征在于,所述將所述測后元器件運送至烘干組件(5),還包括:所述承托盤(12)通過第三滑軌(13)滑至所述烘干組件(5)中。

9.根據權利要求1所述的一種元器件自動檢測方法,其特征在于,所述超聲檢測器(31)對預處理元器件進行超聲檢測,包括:所述超聲檢測頭(311)向所述元器件發出超聲波和脈沖激光,并接收來自所述元器件返回的超聲波,其中,所述超聲檢測頭(311)的一側設有脈沖激光器(33),所述脈沖激光器(33)發出脈沖激光,所述超聲檢測頭(311)上設有供脈沖激光穿過的通孔(0311)。

10.根據權利要求9所述的一種元器件自動檢測方法,其特征在于,所述超聲檢測器(31)的底座(34)空心設置且內部設有反射鏡片,所述脈沖激光器(33)的輸出端通過光纖連接準直器(35),以使所述準直器(35)的輸出端發出脈沖激光貫穿所述底座(34)并通過所述反射鏡片穿過所述通孔(0311)。

11.根據權利要求9所述的一種元器件自動檢測方法,其特征在于,所述薄膜容器(32)內壁的一側設有制冷片,以降低水溫。

12.根據權利要求9所述的一種元器件自動檢測方法,其特征在于,所述超聲檢測頭(311)包括超聲換能器(3111)和檢測頭本體(3112),所述檢測頭本體(3112)中空設置,所述超聲換能器(3111)安裝在所述檢測頭本體(3112)內,所述通孔(0311)貫穿設置在所述超聲換能器(3111)上,所述超聲換能器(3111)用于發射超聲波,并接收來自所述元器件返回的超聲波,將其轉化為超聲波信號。

13.根據權利要求9所述的一種元器件自動檢測方法,其特征在于,所述超聲檢測頭(311)還包括透鏡(36),安裝在所述檢測頭本體(3112)內,并設在所述超聲換能器(3111)的下方,用于調節所述脈沖激光器(33)發出脈沖激光的光斑大小。

14.一種電子設備,包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并在處理器上運行的計算機程序,其特征在于,所述處理器執行所述程序時實現如權利要求1至13任意一項所述的方法。

15.一種非暫態計算機可讀存儲介質,所述非暫態計算機可讀存儲介質存儲計算機指令,其特征在于,所述計算機指令用于使計算機執行權利要求1至13任一所述方法。


技術總結
本申請提供一種元器件自動檢測方法,包括:超聲檢測頭準備:將超聲檢測器的超聲檢測頭浸入薄膜容器的水中,其中,薄膜容器的底部為高透膜;元器件預處理:將元器件放置在移動工位上,移動工位將元器件運送至噴淋組件下方,噴淋組件對元器件的頂面噴淋水霧,得到預處理元器件;預處理元器件檢測:移動工位將預處理元器件運送至超聲檢測頭的下方,并將預處理元器件的頂面抵接高透膜,以使超聲檢測頭的探測端與預處理元器件位置相對,超聲檢測器對預處理元器件進行超聲檢測,得到測后元器件;元器件烘干:將測后元器件運送至烘干組件,啟動烘干組件,將測后元器件烘干,上述元器件檢測方法自動化程度高,對元器件的檢測效率高。

技術研發人員:姜晨,張嘉昕,王坦,田皓霖,冉光文
受保護的技術使用者:航天科工防御技術研究試驗中心
技術研發日:
技術公布日:2025/6/12
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